Kaplama Malzemelerin Taramalı Elektron Mikroskobunda Tahribatsız Kimyasal Analizleri

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.authorTuran, Servet
dc.contributor.authorBaşkut, Sinem
dc.date.accessioned2023-04-10T20:29:31Z
dc.date.available2023-04-10T20:29:31Z
dc.date.issued2022
dc.departmentRektörlük, Rektörlüğe Bağlı Birimler, Düzce Üniversitesi Dergilerien_US
dc.description.abstractBu çalışmada, içeriği bilinmeyen ve yüzeyi farklı bir malzeme ile kaplanmış bir numunenin kaplama yüzeyine tahribatsız olarak EDS-SEM analizleri yapılarak kaplama ve altlık malzemelerde bulunan elementlerin belirlenmesi ve birbirinden ayırt edilmesi hedeflenmiştir. Bu amaç doğrultusunda, EDS analizleri sırasında etkileşim hacmini etkileyerek farklı tanelerden karışık bir şekilde x-ışını sinyallerinin elde edilmesini engelleyebilen hızlandırma voltajı ile uygun değerlerde kullanılmaları kritik bir önem taşıyan işlem ve EDS programına girilen analiz süreleri gibi parametrelerden faydalanılmıştır. Yüksek pik çözünürlüğü ve doğru nicel sonuçlar elde edebilmek için ideal işlem süresinin 5 (hızlıdan yavaşa 1-6 arasında değer alır), EDS programına girilen analiz süresinin ise 80 sn (analizler 10, 20, 50, 80, 120 ve 180 sn sürelerinde gerçekleştirildi) olduğu belirlenmiştir. İdeal işlem ve analiz sürelerinde kaplama yüzeyine 30, 25, 20, 15 ve 10 kV hızlandırma voltaj değerlerinde yapılan EDS analizleri x-ışını sinyallerinin 30-15 kV aralığında kaplama ve ana malzemeden, 15 kV altında ise sadece kaplamadan geldiğini göstermiştir. EDS spektrumlarında karşılaşılan farklı elementlerin pik çakışması problemi EDS’e göre daha yüksek pik çözünürlüğüne sahip olan WDS-SEM tekniğiyle çözülmüştür. Yapılan analizler ile altlık malzemenin SiAlON, kaplama malzemesinin ise TiCN olduğu tayin edilmiştir.en_US
dc.identifier.doi10.29130/dubited.950588
dc.identifier.endpage464en_US
dc.identifier.issn2148-2446
dc.identifier.issue1en_US
dc.identifier.startpage448en_US
dc.identifier.trdizinid1124263en_US
dc.identifier.urihttp://doi.org/10.29130/dubited.950588
dc.identifier.urihttps://search.trdizin.gov.tr/yayin/detay/1124263
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12684/11900
dc.identifier.volume10en_US
dc.indekslendigikaynakTR-Dizinen_US
dc.language.isotren_US
dc.relation.ispartofDüzce Üniversitesi Bilim ve Teknoloji Dergisi
dc.relation.publicationcategoryMakale - Ulusal Hakemli Dergi - Kurum Öğretim Elemanıen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectTahribatsız kimyasal analizen_US
dc.subjectEDSen_US
dc.subjectWDS Non-destructive chemical analysisen_US
dc.subjectEDSen_US
dc.subjectWDSen_US
dc.titleKaplama Malzemelerin Taramalı Elektron Mikroskobunda Tahribatsız Kimyasal Analizlerien_US
dc.typeArticleen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim
İsim:
11900.pdf
Boyut:
2.06 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Tam Metin / Full Text
İndir

Koleksiyon

TR-Dizin İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
Düzce Üniversitesi Bilim ve Teknoloji Dergisi Koleksiyonu